產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產品簡介 射頻導納料位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產品，適用于測量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產品采用適當頻率的射頻信號，同時對電容、電阻、電感進行檢測，消除了采用電容式技術而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動、攪拌、或狹小的空間場所的測量。導納式物位開關為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
